European knowledge baseEuropean calibration knowledge platform
Optikai metrológia · mesterkurzus

A fény measuremente – az SI candelától az LMK kameráig

Átfogó mérnöki útmutató a radiometriai és fotometriai mennyiségektől az SI-metrological traceabilityen át a spektroradiométerekig és képalkotó fénysűrűségmérőkig.

Átfogó mérnöki útmutató a radiometriai és fotometriai mennyiségektől az SI-metrological traceabilityen át a spektroradiométerekig és képalkotó fénysűrűségmérőkig.

A fény mint mérendő fizikai jel

A fény measurementének első nehézsége, hogy ugyanazt az elektromágneses sugárzást legalább két eltérő nézőpontból írjuk le. A radiometria a sugárzási teljesítményt és annak térbeli, iránybeli, illetve spektrális eloszlását vizsgálja. A fotometria ugyanezt a sugárzást a standardos emberi látás spektrális érzékenységével súlyozza. Emiatt a watt és a lumen között nincs általános, spektrumtól független átváltás.

A measurement feladat ezért mindig a measurand pontos meghatározásával kezdődik. Nem elég azt mondani, hogy „fényerőt mérünk”: meg kell adni, hogy fényáramról, fényerősségről, megvilágításról, fénysűrűségről, besugárzásról vagy sugársűrűségről van-e szó, milyen spektrális tartományban, milyen geometriában és milyen időbeli állapotban.

Radiometriai és fotometriai mennyiségek rendszere

Radiometriai mennyiségFotometriai conformingTipikus egységGyakori alkalmazás
Sugárzási teljesítmény ΦeFényáram ΦvW / lmForrás teljes kibocsátása
Sugárerősség IeFényerősség IvW/sr / cdIrányfüggő kibocsátás
Besugárzás EeMegvilágítás EvW/m² / lxFelületet érő sugárzás
Sugársűrűség LeFénysűrűség LvW/(m²·sr) / cd/m²Kijelzők, útburkolat, lámpatest

A geometriai viszonyok nem mellékesek. A megvilágítás függ a távolságtól és a beesési szögtől, a fénysűrűség pedig a megfigyelési iránytól, a felület tulajdonságaitól és a mérőműszer látómezejétől. A spektrális mennyiségek λ szerinti felbontása nélkül a LED-ek, lézerek és keskenysávú sources viselkedése gyakran félreérthető.

Az SI candela és a metrological traceabilityi lánc

A candela az SI hét alapegységének egyike. A modern definíció a 540 THz frekvenciájú monokromatikus sugárzás rögzített fényhasznosítási értékén alapul. A gyakorlati megvalósítás azonban nem egyetlen „candela-measurement standardlámpát” jelent, hanem radiometriai detektorokra, kriogén radiométerekre, referenciafotométerekre és spektrális korrekciókra épülő láncot.

Fotometriai átszámítás:
Φv = Kcd ∫ Φe,λ(λ) · V(λ) dλ

Egy accredited laboratóriumban a metrological traceability dokumentált calibrationi láncon keresztül valósul meg. A lánc minden eleméhez measurement uncertainty, érvényességi feltétel, környezeti előírás és közbenső ellenőrzés tartozik. A metrological traceability tehát nem pusztán egy certificate megléte, hanem bizonyítható metrológiai kapcsolat a measurement result és az SI között.

Hogyan mér egy modern optikai labor?

A spektroradiométer a sugárzás spektrális eloszlását méri; ebből számíthatók fotometriai és színjellemzők. A fotométer gyors és nagy dinamikájú measurementre alkalmas, de resulte függ a detektor V(λ)-illesztésétől. Az integrálógömb a teljes térszögből származó fényt homogenizálja, a goniophotométer pedig a kibocsátás szögfüggését térképezi fel.

A képalkotó fénysűrűségmérő – például egy calibrated LMK rendszer – egyszerre több százezer vagy millió képpont fénysűrűségét határozza meg. Itt a radiometriai kalibráció mellett geometriai kalibráció, objektívkorrekció, vignettálás, pixeluniformitás, sötétjel, fókusz és dinamikatartomány is része a measurement modellnek.

Fényforrás+ geometriaOptikai rendszergömb / gonio / objektívDetektorspektrum / kameraKiértékeléskorrekció + U
A measurement result a teljes optikai lánc tulajdonságait hordozza.

A measurement uncertainty optikai sajátosságai

Optikai measurementeknél a uncertainty gyakran nem egyetlen domináns measurement standardból származik. Jelentős lehet a spektrális illesztési hiba, a geometriai beállítás, a forrás instabilitása, a linearitás, a szórt fény, a sötétjel, a hőmérséklet és a polarizáció. Képalkotó rendszernél mindehhez hozzáadódik a pixelválasz, az objektív és a régiókijelölés uncertaintya.

Mérnöki megjegyzés: a „műszer pontossága” önmagában nem uncertaintyi modell. A measurement eljárás teljes rendszerét kell modellezni, beleértve a forrást, a geometriát, a measurement tartományt és az adatfeldolgozást.

Valódi laborhelyzet: amikor két jó műszer nem ugyanazt mutatja

Egy keskenysávú LED-forrást fotométerrel és spektroradiométerrel mérve több százalékos eltérés jelentkezhet úgy is, hogy mindkét műszer érvényes calibrationsal rendelkezik. A hiba oka rendszerint nem „rossz calibration”, hanem a fotométer spektrális illesztési hibája, a spektroradiométer sávszélessége, illetve a forrás hőmérsékleti és időbeli változása.

A helyes vizsgálat során rögzíteni kell a forrás stabilizációját, azonos geometriát kell alkalmazni, ellenőrizni kell a detektor linearitását, majd a fotométer spektrális korrekcióját a mért spektrum alapján kell meghatározni. Az eltérés csak ezután értelmezhető metrológiai értelemben.

Mit kérdezhet egy ISO/IEC 17025 auditor?

  • Mi a measurand pontos definíciója és measurement geometriája?
  • Hogyan igazolt a spektrális és geometriai érvényességi tartomány?
  • Milyen közbenső ellenőrzés bizonyítja a referenciasources és detektorok stabilitását?
  • Hogyan kezelik a szoftveres korrekciókat, konfigurációkat és verziókat?
  • A uncertaintyi costvetés tartalmazza-e a spektrális illesztést, linearitást, stray lightot és forrásstabilitást?

Az auditori bizonyíték legyen backkereshető: nyers adatok, konfiguráció, környezeti adatok, korrekciók, számítási fájlok és jóváhagyott result egyaránt szükséges lehet.

Gyakori tévhitek

TévhitMetrológiai valóság
A lumen és a lux ugyanaz.A lumen fényáram, a lux felületi megvilágítás.
A spektroradiométer mindig pontosabb.Az result a sávszélességtől, stray lighttól, linearitástól és jel–zaj viszonytól függ.
A kamera minden pixelje egyformán mér.Pixeluniformitási és objektívkorrekció szükséges.
Az érvényes calibration minden helyzetre érvényes.A calibration tartományhoz, geometriához, konfigurációhoz és feltételekhez kötött.
Optikai mesterkurzus

Folytasd a learning pathat

Optikai akadémia →
Alapozó–haladó szint18 perc olvasás8 fejezet