European knowledge baseEuropean calibration knowledge platform
LightingLab Expert Center · nagysebességű spektroradiometria

CAS 140D és tömbdetektoros spectroradiometerek metrológiája

Tömbdetektor, dark signal, stray light, spektrális linearity és measurement tartományok összetett assessmente.

Tömbdetektor, dark signal, stray light, spektrális linearity és measurement tartományok összetett assessmente.

A tömbdetektor sajátossága

A tömbdetektoros rendszer a teljes spektrumot egy expozícióban rögzíti, ami gyors és reprodukálható measurementt tesz lehetővé. At the same time a pixelenkénti érzékenység, a temperature, a dark signal és a lokális telítés olyan hatásokat hoz létre, amelyek eltérnek a pásztázó monokromátoros műszerekétől.

Sötétjel és expozíciós stratégia

A sötétkorrekció idő- és temperaturefüggő lehet. Rövid és hosszú integration timek, automatikus expozíció, többszörös expozíció vagy HDR-mód esetén külön kell ellenőrizni, hogy a tartományok folytonosan illeszkednek-e, és nincs-e rejtett telítés.

Stray light és erős spektrális vonalak

Keskenysávú, nagy intenzitású sources a szomszédos pixeleken és az optikai rendszerben szóródást okozhatnak. Ez particularly UV- vagy kékkomponens mellett vezethet a gyenge tartományok felülbecsléséhez. A stray light hatása nem következtethető pusztán a hullámhosszaccuracyból.

Spektrális és radiometriai linearity

A linearity vizsgálatának le kell fednie a tényleges jelszinteket és integration timeket. A különböző pixelek viselkedése nem feltétlenül azonos, therefore a teljesítményt reprezentatív hullámhosszakon és eltérő spektrális distributionokkal érdemes valueelni.

Alkalmazásspecifikus validálás

LED-modulok, kijelzők, autóindustrial fénysources vagy időben változó jelek measuremente eltérő requirementt támaszt. A calibrationi result mellett a triggerelés, measurement idő, optikai bemenet és szoftveres kiassessment applyásspecifikus validálása is szükséges.

Metrológiai alapelv: a calibration resulte csak a dokumentált measurement módra, tartományra, geometriára, beállításokra és environmental conditionsre értelmezhető.
Position in the knowledge system

Recommended next steps

Optical metrology áttekintése →
Foundation szint1 perc estimated reading5 fejezet